La Cámara de Pruebas de Estrés Acelerado Alto (HAST) está dise?ada para la industria de chips de semiconductores, así como para aplicaciones en la aviación civil, la aeroespacial comercial, el transporte marítimo, la automoción, las nuevas energías, las instituciones de investigación científica y las universidades. Se utiliza para probar piezas electrónicas, componentes, circuitos integrados, materiales y procesos mediante la aceleración de pruebas de ciclos de alta temperatura, alta humedad, alta presión y pruebas de estrés constante, con el fin de determinar si se producen fallos funcionales debido a la durabilidad (vida útil) o a los cambios ambientales.
| Nombre del producto |
Cámara de prueba de alta tensión acelerada (cámara HAST) |
| Modelo de producto |
HPSC251-M |
El HPSC252-M |
| Volumen del estudio |
51L |
51 L × 2 tanques |
| Tama?o del estudio |
φ380×D450 (R×D) |
φ380 × D450 (R × D) × 2 tanques |
| Tama?o del tanque de almacenamiento |
φ450×D600(R×D) |
φ450 × D600 (R × D) × 2 tanques |
| Dimensiones exteriores |
1200 × 1960 × 1140 mm (ancho × altura × profundidad) |
1200 × 2170 × 1140 mm (ancho × altura × profundidad) |
| Rango de Temperatura |
105℃~150℃ |
| Fluctuaciones de temperatura |
≤±0.5℃ |
| Uniformidad de la temperatura |
≤2℃ |
| Desviación de temperatura |
±2℃ |
| Rango de presión |
110kPa ~ 300kPa (presión absoluta) |