La chambre d’essai à contraintes accélérées élevées (HAST) est con?ue pour l’industrie des puces semi-conductrices, ainsi que pour des applications dans l’aviation civile, l’aérospatiale commerciale, le secteur maritime, l’automobile, les énergies nouvelles, les instituts de recherche scientifique et les universités. Elle est utilisée pour tester les pièces électroniques, les composants, les circuits intégrés, les matériaux et les procédés en accélérant les cycles de haute température, de forte humidité et de haute pression, ainsi que les essais de contrainte constante, afin de déterminer si des défaillances fonctionnelles surviennent en raison de la durabilité (durée de vie) ou des changements environnementaux.
| Nom du produit |
Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST) |
| Modèle de produit |
HPSC251-M |
HPSC252-M |
| Volume du studio |
51L |
51 L × 2 réservoirs |
| Dimensions du studio |
φ380×D450 (R×D) |
φ380 × D450 (R × D) × 2 réservoirs |
| Dimensions du réservoir de stockage |
φ450×D600(R×D) |
φ450 × D600 (R × D) × 2 réservoirs |
| Dimensions extérieures |
1200 x 1960 x 1140 mm (largeur x hauteur x profondeur) |
1200 x 2170 x 1140 mm (largeur x hauteur x profondeur) |
| Plage de température |
105℃~150℃ |
| Fluctuations de température |
≤±0.5℃ |
| Homogénéité de la température |
≤2℃ |
| Déviation de température |
±2℃ |
| Plage de pression |
110kPa ~ 300kPa (pression absolue) |