La Camera di Prove ad Alta Accelerazione (HAST) è progettata per l’industria dei chip semiconduttori, nonché per applicazioni nell’aviazione civile, nell’aerospazio commerciale, nel settore navale, nell’automotive, nelle nuove energie, nelle istituzioni di ricerca scientifica e nelle università. Viene utilizzata per testare componenti elettronici, componenti, circuiti integrati, materiali e processi mediante l’accelerazione di cicli ad alta temperatura, alta umidità, alta pressione e prove di sollecitazione costante, al fine di determinare se si verificano guasti funzionali dovuti alla durabilità (vita utile) o a cambiamenti ambientali.
| Nome del prodotto |
Camera di prova di stress altamente accelerata (camera ha) |
| Modello di condotto prodotto |
HPSC251-M |
HPSC252-M |
| Volume della camera di lavoro |
51 l |
51 l × 2 serbatoi |
| Dimensioni della camera di lavoro |
φ 380 × D 450 (R × D) |
φ 380 × D 450 (R × D) × 2 serbatoi |
| Dimensioni del serbatoio |
φ 450 × D 600 (R × D) |
φ 450 × D 600 (R × D) × 2 serbatoi |
| Dimensioni esterne |
1200 × 1960 × 1140 mm (W × H × D) |
1200 × 2170 × 1140 mm (W × H × D) |
| Intervallo di temperatura |
105℃~150℃ |
| Fluttuazione della temperatura |
≤±0.5℃ |
| Uniformità della temperatura |
≤2℃ |
| Deviazione della temperatura |
±2℃ |
| Intervallo di pressione |
110kPa ~ 300kPa (pressione assoluta) |