高壓加速老化試驗箱(HAST)適用于半導體芯片行業以及民用航空、商業航天、船舶、汽車、新能源、科研院校等領域電子部品、元器件、集成電路以及材料、工藝等通過加速進行高溫、高濕、高壓循環及恒定試驗測試來確認其是否因耐久性(壽命)或環境變化而導致功能失效。
| 產品名稱 |
高壓加速老化試驗箱(HAST) |
| 產品型號 |
HPSC251-M |
HPSC252-M |
| 工作室容積 |
51L |
51 L × 2罐 |
| 工作室尺寸 |
φ 380 × D450(R × D) |
φ 380 × D450(R × D)× 2罐 |
| 儲罐尺寸 |
φ 450 × D600(R × D) |
φ 450 × D600(R × D)× 2罐 |
| 外部尺寸 |
1200 × 1960 × 1140毫米(寬×高×深) |
1200 × 2170 × 1140毫米(寬×高×深) |
| 溫度范圍 |
105℃~150℃ |
| 溫度波動 |
≤±0.5℃ |
| 溫度均勻性 |
≤2℃ |
| 溫度偏差 |
±2℃ |
| 壓力范圍 |
110kPa~300kPa(絕對壓力) |